用電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-AES）法測(cè)定 TB6鈦合金中雜質(zhì)元素Mo、Cr、Sn、Zr、Cu和B的方法。樣品采用鹽酸、氫氟酸和硝酸溶解，考察了鈦合金基體和共存元素對(duì)待測(cè)元素的影響，確定了各待測(cè)元素譜線分別為：Mo 202.031 nm、Cr 267.716 nm、Sn 189.927 nm、Zr 343.823 nm、Cu 324.754 nm、Si 251.611 nm、B 249.772 nm。選定的待測(cè)元素分析線不受合金基體和共存元素的譜線干擾。通過基體匹配消除基體的影響。選擇了儀器工作參數(shù)，進(jìn)行了標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)對(duì)照試驗(yàn)，試驗(yàn)結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)值相符。進(jìn)行了加入回收試驗(yàn)，回收率在90％～106％之間，相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差小于2％。